デュアルサイドフライングプローブテスタ：APT-1600FD カタログ

検査可能範囲を大幅拡大、更なる検査時間の短縮

上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。
検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。
豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。