枚葉検査装置 PIE-650M
高精度な欠陥検出を、省スペースで実現。搬送装置と一体の枚葉検査装置です。
高精度な欠陥検出を、省スペースで実現。搬送装置と一体の枚葉検査装置です。
枚葉検査装置PIE-650Mは、搬送装置と一体の枚葉検査装置となります。多様な欠陥を本装置一台で検査可能です。評価をご希望のお客様はサンプルをご準備ください。評価テストにより、検査装置での検出可否を検討。検査システムをご提案いたします。
特長
複数の検査ステージを一台の検査装置で実現。多様な欠陥を検出することが可能な枚葉検査装置です。
検査装置と一体の搬送装置を反復搬送させることで、透過、反射ステージなど異なる光学環境を実現。多様な欠陥検出を行う事が可能です。
欠陥マップと欠陥リスト表示
欠陥の分布をマップ上にリアルタイム表示します。欠陥のレベル、欠陥種などがマークで表示されます。
画像一覧表示機能
欠陥画像の一覧と詳細情報を表示します。欠陥のレベル分けや表示が可能です。
シミュレーション機能
取込んだ画像を用いて、外観検査のシミュレーションが可能です。感度設定の確認、調整を行う事ができます。
用途例
| 主な検査対象物 | フィルム/ガラス/金属箔/積層板/鋼板/紙/不織布/ゴム/食品 など |
|---|---|
| 主な欠陥種 | キズ/汚れ/シワ/凹凸/異物/ムラ/ストリーク/ピンホール など
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