マルチガスセンサ(ラマン散乱方式)

オンラインVFA計　EZ7200

バイオマス発電、工場排水、下水処理における嫌気性廃水処理、嫌気性汚泥処理の発酵槽内は、非常に複雑な有機炭素化合物の分解が行われている点で、難しさがあります。そこで、重要なパラメーターを常時監視することが求められます。 オンラインVFA計EZ7200は、pH、アルカリ度、揮発性脂肪酸（VFA）、VFA/アルカリ度比をオンラインで測定することを可能にしました。例えばVFAに関しては揮発性のため、ラボでの測定は非常に困難なうえ、専門性の高い技術者を要す上、ラボ分析で異常を検知した時点で手遅れになることも多々あります。10－15分周期でオンライン測定をすることで、消化槽内の様々な事象を事前に察知可能となります。

梅田電機株式会社の「6つの領域」

大きく6つの分野についての業務を行っています。 ①組込みシステムはソフトでは各種プラットフォーム(Windows・Linux)等、各種言語(C/C++・C#・VB)等に対応。ハードは各種CPU(ARM・ルネサス・Microchip等)に対応。 ②IoT/ICTシステム開発は各種言語(HTML・CSS・Javascript)等に対応、サーバー(Windows Server・Linux)等、フレームワーク(ASP.NET Core)等、Docker等の仮想化にも対応。 ③画像処理システム開発はキズ・汚れ等の外観検査、寸法・位置計測、粒子解析、バーコード・文字読み取り等様々なニーズに対応。アルゴリズムの検討～ソフト開発(MIL・HALCON・OpenCV)、周辺機器・機械の制御、カメラ・照明の選択、品質データの管理、現場調整までシステム一式対応。またAI・3D認識技術による画像判別システムにも対応。 ④検査システム開発はパソコン・PLCを使用して各種製品の検査装置やファンクションチェッカー等も開発します。 ⑤各社PLC・タッチパネルソフト設計、制御盤のハード設計から製作・現場調整まで一式請け負います。 ⑥医療機器製造業登録のもと、医療機器の受託開発から製造、医療機器認証を受けるためのハード・ソフト開発、各種規格に対応した、安全性試験・EMS試験の事前試験を実施等、様々なニーズに対応しています。

携帯型分光放射計 MS-730

携帯型分光放射計 MS-730は、可視域から近赤外域までの波長領域を対象とした分光計測用に開発された分光放射計であり、主に地質，植生，海洋，リモートセンシング分野の分光計測データ取得に利用できます。

世界最高級の検査×測定

当社は、世界の先進的かつ高品質な製品・技術を日本市場へと導入することで、国内産業発展の一翼を担ってきました。 日本市場を支えるお客様と、高い技術力や確かな実績をもつ海外取引先との間に立ち、相互利益の最大化に寄与すること、それが当社の価値であると考えます。またこれまでに培ってきた知識と豊富な経験を活かしながら、海外に広がるネットワークを駆使して、お客様のご要望に応える製品・技術・サービスを提供すること、それが当社の使命であると思います。 先進的な製品・技術をいち早く世界から選び抜き、日本産業界へ紹介し日本経済の礎を支えるとともに、ビジネスを通して日本と外国の異なる文化交流に寄与します。また、同時に社会と環境に対しても最大の貢献をしていきます。

屋内位置情報システム 「VENUE」

・信頼できるインドアポジショニング : リアルタイムで可能な1～3mの連続平均ポジショニング精度で、屋内であっても人や資産、車両といった対象を追跡可能です。 ・広い敷地も得意 : ソリューションを利用したいのはオフィスでしょうか、それとも、建設現場、工場、倉庫、はたまた病院でしょうか。VENUEの技術はスケーラブルで、さらに多層ビルや広い敷地にも対応可能です。 ・インフラストラクチャフリーのソリューション : VENUEはインフラストラクチャに左右されません。多額の費用がかかるインフラストラクチャ構築や設置を避けられるだけではなく、システムは時間の経過と共に自己修復できるので、メンテナンスや再測量といったことを気にする必要がありません。VENUEには、現場のセットアップに必要なものがすべてそろっており、多額の設備投資をすることなくインドアポジショニングを利用できます。

リアルタイム膜厚モニター「FR-ES」（ThetaMetrisis社／ギリシャ）

ThetaMetrisis（シータメトリシス）社 FR-ESの膜厚測定は反射率分光方式で、光を通す透明または半透明の膜層を測定できます。光学式のため、非破壊・非接触で出荷する実製品を傷つけることなく測定が可能です。 専用ソフトウェアは「横軸：時間、縦軸：膜厚」のグラフ表示で、膜厚の変動をビジュアルとして分かりやすくしています。また、フィルムの両端と中央の3箇所を測定することで幅方向の膜厚ムラを監視することができます。 カタログ・資料のダウンロードのほか、ご不明な点はお気軽にお問い合わせください。

脳波を活用した感性把握技術　フルリモートニューロリサーチ

フルリモートニューロリサーチは、オンラインで実験指示を出すことが可能な、非対面方式のニューロリサーチです。家にいながらビデオ通話で直接対話をし、実験指示を通して対象者の「感性」を把握することができます。 電通サイエンスジャムの持つ脳波による感性把握技術は、慶應大学満倉靖恵教授の18年以上の研究によって確立された独自のアルゴリズムを活用しています。その研究は国内外で評価され、多くのクライアント様が商品開発やリサーチ、エビデンス構築などに活用しています。 首都圏に暮らす128世帯の同意を得た生活者の家庭にクラウド連携させた脳波計測器を配布し、在宅型大規模ニューロリサーチパネルを構築しました。実際の生活環境で脳波取得が実現するとともに、スピーディーかつコストパフォーマンスに優れた大規模ニューロリサーチをご提供しております。

粉末冶金の密度変化予測解析

これまで解析が困難であった、粉末冶金のシミュレーション方法を提案。材料歩留まりを向上し、コストダウンに貢献します。 金属の粉末を金型に入れて圧縮し固め、高温で焼結して精度の高い部品をつくる技術は、コストダウン等の点から注目されています。 高密度化により機械的性質が向上することが知られているものの、焼結後の圧粉体成形・冷間鍛造について実用的な解析手法は確立されておらず、これまでは経験者の勘に頼って評価していました。 本技術によって、試験片の作成から基礎実験・シミュレーションを一貫して実施します。 部品の形状によっては、密度が低く強度が弱い部位が出てきます。高荷重をかけると密度は上がるものの、そのために大きなプレス機が必要になる、金型が壊れる等の課題が生まれます。本研究を応用することで、低荷重で特定部位の強度を向上することが可能になります。

外観検査装置 Prestige

半導体で培った微細欠陥検出を金属加工製品検査装置へ。 この外観検査装置、Prestigeでは、ありとあらゆるミクロンレベルの欠陥を検出することが可能です。通常、欠陥検出においては、欠陥の大きさ、形などを検査装置にレシピとして登録し、そのレシピに基づき検査する方式がとられますが、弊社の独自の検査アルゴリズムにより、検査工程中でも、欠陥と思われるものが存在した場合、レシピに登録していないような欠陥でも欠陥として検出することが可能です。 また、物理的に検出できる欠陥以外にも光学の技術を応用し、エッチング工程で発生しうるシミやムラなども併せて検出することが可能です。なお、検査対象製品の表面、裏面を同一の検査工程で検査することにも対応しております。さらにオプション装置を使用することにより欠陥部材の発生箇所をそのオプション装置と連携し自動で欠陥部材を取り除く欠陥部材自動除去装置と接続することが可能です。 Prestigeにてサポートしている主な機能。 ●キズ、へこみ、くぼみなど、物理的な欠陥を検出 ●金属エッチング工程で発生するシミやムラの検出 ●微細金属加工における表面状態観察 ●欠陥部材自動除去装置（Prestige、オプション機能） 等

振動計　VMseries

持ち運びに便利な小型軽量！簡易診断に対応したバッテリ駆動タイプの振動計 『VMシリーズ』は、簡易診断に対応したバッテリ駆動 ハンディタイプの振動計です。 持ち運びに便利な小型軽量で、加速度・速度・変位を同時計測して記録します。 小型軽量の1chタイプ「VM-1001H/S」と、大画面に同時計測・表示できる 2chタイプ「VM-2001」をラインアップしています。 【特長（VM-1001H/S）】 ■小型軽量3.5インチ液晶画面 ■1ch計測のシンプルタイプ ■周波数分析機能を搭載（Hに装備） ■時間波形の機能を使用して振動波形を記録可能（Hに装備） ■軸受諸元を設定する事により軸受診断が可能（Hに装備） 【特長（VM-2001）】 ■5.7インチ見やすい大型液晶画面 ■2ch同時計測・診断 ■2chを上下分割・重ね表示 ■周波数分析機能を搭載（FFTオプション） ■時間波形の機能を使用して振動波形を記録可能（FFTオプション） ■軸受諸元を設定する事により軸受診断が可能（FFTオプション）

コンタミ自動解析システム Cleanliness Expert

清浄度の検査、コンタミ・異物のカウントや測定を自動で 自動車製造分野における先進メー力一数社の協力のもとに開発された品質保証システム。 メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類や特定化を目的とする、すべてのアプリケーションに対応します。

流量コントロールシステム　FC6000

PFA製UCUF形高精度超音波流量計、FCV形コントロール弁および超音波流量計用変換器搭載のFCA6000形コントローラで構成される分離形の流量コントローラです。 超音波流量計検出器およびコントロール弁の選択により、広範囲の流量制御が可能です。純水、超純水、各種薬液、CMPスラリーなどの流量制御にご使用いただけます。

粉体検査装置　POIE-8000CA

様々な粉体への異物混入を検出。異物の排出を行います。 POIE-8000CAは20μmの分解能を持つRGBラインセンサを4台搭載。 細かい毛髪（φ30μm×3㎜以上）、微細な異物（φ50μm以上）などの異物混入検査が可能です。 清掃・段取り替えの手間を大幅に軽減させる搬送機構、各種設定・状況確認等が簡単に行えるなど作業者の負担を軽減する操作性を追求した検査装置です。

フィルム検査装置　Hawkeyesシリーズ

高速高精細な検査で課題解決に貢献します 製品の小型化・薄型化に伴い、ハイレベルな検査が求められるフィルムに対し、高速かつ高精細な検査を提供します。 用途や必要スペックに合わせ、最適な検査装置を提案します。 帳票のスタイルやユーザインタフェース等はご希望に合わせて改造が可能です。 まずはタカノへご相談ください。

コナンデッセ波形解析装置

機械の異常を見える化する、異常予知・傾向管理システム コナンデッセ波形解析装置は、良否判定機能付きのサイクルデータロガーです。 大量生産など、同じ工程を繰り返す機械の状態を監視して正常か異常かを判定することができます。 コンパクトな（W115xD97xH40mm）本体にて、大量のサイクル波形データをSDカードに記録します。高速で簡単にグラフ表示や分析を行うソフトウェアが付属します。 平成24年度ものづくり中小企業・小規模事業者試作開発等支援補助金を利用して、名古屋工業大学都市社会工学科の越島研究室と橋本研究室の技術指導をいただいて試作開発しました。同時に当社の主要顧客である本田技研工業様に解決すべき課題を提供いただきました。 専用のハードウェアと独自の分析ソフトウェアの組み合わせで高速データ処理を行って、他社製品にはない使い良さと処理スピードを実現しています。 特にブラウザによる簡単操作とエクセルなどと比べても10倍以上早いグラフ処理や解析機能によるエンジニアの工数削減効果はユーザの高い評価を得ています。

PFA一体形超音波流量計　UF

150L/minまでをストレート配管で測定可能 UFはストレートPFAチューブを採用した表示付きの変換器一体形超音波流量計です。 超純水、純水、水の流量管理用として広範囲のアプリケーションに対応。

「連続シート製品」における表面検査

「連続シート製品」における表面検査で、「品質管理」「工程管理」をサポートします 被検査対象（フィルム、金属等）に照明を照射（透過または反射）し、欠陥箇所で発生する光のコントラスト差をリアルタイムにラインセンサーカメラで検出するシステムです。 Roll to Rollで搬送される製品を全面検査することができます。（LSC6000） また、枚葉製品も検査可能な装置をラインナップしています。（MLA5000） ■LSC6000シリーズ Roll to Rollの製品を対象とした検査装置です。 弊社独自の画像強調フィルタを用いる事で低コントラストの欠陥も安定検出可能です。 欠陥検出のみでなく、検出後のマーキング、拡大画像撮像等のオプションも充実させています。 ■MLA5000シリーズ 各種枚葉製品やダイシングテープ等における『連続シート内指定エリア検査/寸法測定』をリアルタイム計測する検査装置です。 検査用PCはカスタム可能なため、お客様のニーズに合ったインターフェイスを提案致します。

クランプオン型超音波流量計　UCL/SFC010C.011C

半導体製造装置など高いクリーン度を要求されるプロセスに最適です。 PFAチューブ用のクランプオン超音波流量計です。 小口径から1”までのチューブサイズに対応。流量計取付けのためのチューブ切断・施工が不要で、既設のチューブに挟み込むだけで流量計測ができます。 変換器は1ch形およびマルチチャンネル形をラインナップ、1台の変換器で最大6台までの検出器を接続できます。

蛍光Ｘ線式膜厚測定・素材分析器

薄膜や多層膜の厚み測定や組成分析に 非常に薄い皮膜の膜厚測定と微量成分分析に優れており、低いエネルギーレベルのX線にも感度が高いため、原子番号の低い元素のリンやアルミニウムなどの分析も可能です。 長時間連続測定に対応しており、長期間において安定性を持つ極めて堅牢な構造となっています。

気体・液体マスフローコントローラ

各種流体の精密制御を実現します 当社の持つ流体制御技術により、気体や液体を高精度安定供給することで、半導体や液晶、各種電子デバイスの製造プロセスに貢献します。