ライカの工業用顕微鏡｜計測・検査・分析

ライカの工業用顕微鏡が選ばれる理由

レンズメーカーの光学性能

ライカは、顕微鏡に用いるレンズの開発・設計・製造を自社で手がけるレンズメーカーです。色収差を可能な限り補正した最高等級のアポクロマートレンズ（複数の波長で色のにじみを補正した高性能レンズ）を採用し、高い解像度・色再現性・コントラストを実現しています。

この光学性能は、画像処理に頼らない「見えの良さ」につながります。観察対象そのものの正確な色や形状が得られるため、微細な異物や欠陥の見極め、異物の種類判別といった検査の精度に寄与します。

自動制御で誰でも同じ結果

ライカの工業用顕微鏡には、観察条件を自動で最適化する制御機能が備わっています。倍率を変更すると、明るさ・コントラスト・絞りが自動で最適値に調整される「イルミネーションマネージャー」や、ボタンひとつで明視野・暗視野・微分干渉・偏光などの観察法を切り替えられるワンボタン操作に対応したモデルがあります。

これにより、複雑な操作や調整の手間が軽減されます。デジタルマイクロスコープでは、倍率調整ノブに連動してスケールバーが自動調整される機能（オートスケール）も備え、校正作業なしで簡易測定が行えます。熟練者でなくても、再現性の高い観察・測定が可能です。

目視観察とデジタル解析の両立

ライカの工業用顕微鏡は、接眼レンズによる目視観察と、デジタルカメラによる画像取得・2D計測・自動解析の両方に対応しています。立体的な目視観察が必要な作業と、画像として記録・共有・解析したいニーズの双方に応えられます。

「画面だけ」「目視だけ」に偏ることなく、用途に応じて観察スタイルを選べます。たとえば実体顕微鏡で立体的に目視観察しながら、同時にモニター上で大きく表示・共有するといった使い方が可能です。

規格準拠の検査を自動化

ライカは、国際規格に準拠した自動解析ソフトウェアを提供しています。清浄度（コンタミ）検査のISO 16232・VDA 19.1や、鋼の非金属介在物解析のASTM E45などの規格に沿って、解析からレポート作成までを自動化できます。

規格を選ぶだけで準拠したレポートを生成できるため、目視による測定にかかる時間やばらつきを軽減します。検査結果の標準化と作業負担の軽減を両立できる点が、選定の決め手となります。

清浄度（コンタミ）解析システム

コンタミ検査が必要な理由

コンタミとは、機械加工などの工程で部品に残留する付着異物の総称です。加工切粉、切削・加工油脂、繊維など、製造現場や外部要因のさまざまな経路から発生します。

これらの異物のうち、高硬度・研磨性の粒子は機械的な損傷の原因に、導電性の粒子は電気的な故障の原因になりうるため、品質管理上の管理が重要です。自動車、エレクトロニクス、航空宇宙、オイル・潤滑剤など、幅広い業界で清浄度の管理が求められています。

部品を洗浄し、洗浄液をフィルタに濾してフィルタ上のコンタミを管理することで、不具合要因の追求と製造工程へのフィードバックにつなげられます。

自動測定とレポート作成

Leica LAS X Cleanliness Expert（クリーンリネスエキスパート）は、メンブレンフィルタに捕集した微粒子を顕微鏡で撮影し、コンタミの種類・大きさ・個数を自動的に測定するシステムです。大きさと個数に分類された残留異物のレポートを自動で作成します。

高い光学性能で異物を見極める

製品ラインアップ

デジタルマイクロスコープ

Emspira 3（エンスパイラスリー）やDVM6などのデジタルマイクロスコープは、接眼レンズを使わずモニター上で観察するタイプです。トレーニングなしでも扱いやすく、誰でも使いやすい操作性が特長です。ワークを動かさずに斜め方向から観察・撮影でき、深度合成や異物（コンタミ）の自動解析にも拡張できます。

Emspira 3		【特長】 最高級プランアポクロマートレンズを標準搭載 【拡張性】 USBメモリ保存からLAS Xによる自動深度合成・コンタミ自動解析まで対応 【観察】 4K・1200万画素センサーで最大60コマ/秒のライブ観察
DVM6		【特長】 片手操作をコンセプトにしたワンハンド・オペレーション 【観察】 対物レンズの選択で低倍から高倍まで幅広い倍率に対応 【用途】 傾けての観察や位置決めをグリップ操作で快適に

実体顕微鏡

実体顕微鏡は、立体的に観察できるタイプです。ライカ独自のFusionOptics（フュージョンオプティクス）技術により、高い解像度と深い焦点深度を両立し、立体感のある観察を実現します。組み立て、外観検査、リワーク（補修作業）などに適しています。

Ivesta 3		【特長】 最高峰アポクロマートレンズ搭載で9倍ズーム、倍率6.1倍〜55倍 【タイプ】 エントリー、Cマウント、カメラ内蔵から選択可能 【焦点深度】 クラス最大12mmで前景・後景の情報を多く取得
M205 C ほか		【特長】 FusionOptics搭載で高解像度と深い焦点深度を両立 【作業性】1×対物レンズで61.5mmの広い作動距離を確保 【照明】 リングライト・同軸・透過照明など多彩なLED照明に対応
A60 S・A60 F		【特長】 静電気対策モデル 【用途】 静電気対策が求められる電子部品の取り扱いに適する

正立・倒立顕微鏡

DM4 M／DM6 M（正立）やDMi8（倒立）などは、金属組織の観察に適した顕微鏡です。明視野・暗視野・微分干渉・偏光など、複数の観察法に対応しています。

電動制御モデルでは、フォーカス・ステージ・対物レボルバなどを自動化し、観察条件の記憶・呼び出しも行えます。ルーチンの検査・確認作業から高度な金属組織観察まで、用途に応じて選べます。

半導体検査・偏光顕微鏡

DM8000 M／DM12000 Mは、半導体検査向けの顕微鏡です。i-line UV照明に斜め照射機能を組み合わせ、欠陥箇所や膜厚の不均一などの微細な観察に対応します。明視野・暗視野・微分干渉・UVの各観察法をワンボタンで切り替えられます。

DM4 P／Visoria P（ヴィソリアP）は偏光顕微鏡で、再現性のある高コントラストの偏光像が得られます。倍率変更時に明るさ・コントラストを自動調整するモデルもあります。

画像解析ソフトウェア

ライカは、観察・計測・解析・レポート作成を一つの操作環境で実行できる画像解析ソフトウェアを提供しています。

Leica Enersight

Leica Enersight（エナーサイト）は、二点間距離・面積・角度などの寸法計測を無償で行える基本環境です。計測結果は画像への貼り付けやExcelへの出力が可能です。

LAS X

LAS X（Leica Application Suite X）は、必要な機能をモジュールとして追加できるソフトウェアです。深度合成、ステッチング（画像連結）、2D解析のほか、コンタミ解析や金属組織解析の各Expertモジュールを用途に応じて選択できます。

用途例

残留異物（コンタミ）検査

自動車部品や電子部品の残留異物検査は、ライカの清浄度解析システムが活用される代表的なシーンです。品質保証部・品質管理部・生産技術部などの部署で、規格に準拠した異物の自動測定に用いられています。

金属組織の解析

鉄鋼・金属業界の品質管理では、金属組織の解析が重要です。ライカのLAS X各Expertモジュールにより、複数の解析を自動化できます。

鋼の非金属介在物解析 （ASTM E45ほか）	硫化物、酸化物などの介在物を自動で分類・解析
結晶粒度解析	金属・鉱物・樹脂の粒界を自動検出し、結晶粒度や面積を表示
相分離 （多値化）	複数の相の面積率を測定
鋳鉄の解析	黒鉛球状化率など、鋳鉄の特性に影響する要素を分析

電子部品・半導体の検査

エレクトロニクス・半導体分野では、基板やウェハの欠陥観察、膜厚の不均一の確認などに用いられています。

実体顕微鏡やデジタルマイクロスコープは、基板・電子部品の外観検査や組み立て、リワークに適しています。半導体検査顕微鏡は、UV照明や斜め照明を活用し、微細な欠陥の観察に対応します。

外観検査・寸法計測

段差のある表面形状のサンプルでは、深度合成により全面にフォーカスが合った画像を取得できます。ピントの段差がある対象も、合焦した一枚の画像として観察できます。

二点間距離、面積、角度などの2D計測に対応し、深度合成で得た高さ情報を用いた簡易的な3D表示も可能です。目視検査の効率化と、計測結果の記録・共有に役立ちます。

導入の流れ

お問い合わせ・デモから用途に合わせた構成のご提案、導入後のサポートまで一貫対応

お問い合わせ

Webフォームからお問い合わせ・資料請求をいただけます。検査したい対象や現場で抱えている課題をお知らせください。

デモ・テストデータ取得

実際のサンプルを用いた観察デモや、テストデータの取得に対応しています。遠隔でのリモートデモにも対応しているため、状況に応じた方法でご確認いただけます。

構成のご提案

本体、対物レンズ、スタンド、照明、ソフトウェアを、用途や予算に合わせて組み合わせてご提案します。お客様の検査内容に適した構成を一緒に検討します。

導入・サポート

導入後は、点検・保守・トレーニングなどのサポートを提供します。体験ラボでの操作習得も可能で、導入後の運用を支援します。