枚葉検査装置 PIE-650M

枚葉検査装置 PIE-650M
高精度な欠陥検出を、省スペースで実現。搬送装置と一体の枚葉検査装置です。
高精度な欠陥検出を、省スペースで実現。搬送装置と一体の枚葉検査装置です。

枚葉検査装置PIE-650Mは、搬送装置と一体の枚葉検査装置となります。多様な欠陥を本装置一台で検査可能です。評価をご希望のお客様はサンプルをご準備ください。評価テストにより、検査装置での検出可否を検討。検査システムをご提案いたします。

特長

複数の検査ステージを一台の検査装置で実現。多様な欠陥を検出することが可能な枚葉検査装置です。

複数の検査ステージを一台の検査装置で実現。多様な欠陥を検出することが可能な枚葉検査装置です。

検査装置と一体の搬送装置を反復搬送させることで、透過、反射ステージなど異なる光学環境を実現。多様な欠陥検出を行う事が可能です。

欠陥マップと欠陥リスト表示

欠陥の分布をマップ上にリアルタイム表示します。欠陥のレベル、欠陥種などがマークで表示されます。

画像一覧表示機能

欠陥画像の一覧と詳細情報を表示します。欠陥のレベル分けや表示が可能です。

シミュレーション機能

シミュレーション機能

取込んだ画像を用いて、外観検査のシミュレーションが可能です。感度設定の確認、調整を行う事ができます。

用途例

主な検査対象物 フィルム/ガラス/金属箔/積層板/鋼板/紙/不織布/ゴム/食品 など
主な欠陥種 キズ/汚れ/シワ/凹凸/異物/ムラ/ストリーク/ピンホール など
薄汚れ
凹凸
ストリーク

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