蛍光X線式膜厚測定・素材分析器

蛍光X線式膜厚測定・素材分析器
薄膜や多層膜の厚み測定や組成分析に
薄膜や多層膜の厚み測定や組成分析に

非常に薄い皮膜の膜厚測定と微量成分分析に優れており、低いエネルギーレベルのX線にも感度が高いため、原子番号の低い元素のリンやアルミニウムなどの分析も可能です。

長時間連続測定に対応しており、長期間において安定性を持つ極めて堅牢な構造となっています。

会社案内

特徴

非破壊で膜厚測定および素材分析するのに理想的な測定器

電子部品、電気メッキ、自動車、宝飾業界など幅広い産業において、品質管理や受入検査に適しています。

微小構造の膜厚測定および素材分析に

測定スポットサイズ最小Φ約10 µm(オプション)により微細構造の測定に対応

非破壊で膜厚測定および素材分析するのに理想的な測定器

用途例

品質管理や製造ラインでの監視 薄膜の厚さ測定(例)0.1 µmのAuやPd、電子・半導体産業における機能膜の測定、RoHSやWEEEの規制に対応したトレース分析、金や貴金属の高精度測定、自動化した測定など

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